Chemistry of Materials
ARTICLE
(2) Armand, M.; Endres, F.; MacFarlane, D. R.; Ohno, H.; Scrosati,
B. Nat. Mater. 2009, 8, 621.
(37) Holbrey, J. D.; Reichert, W. M.; Rogers, R. D. Dalton Trans.
2004, 2267.
(3) Xu, K. Chem. Rev. 2004, 104, 4303.
(38) Henderson, W. A.; McKenna, F.; Khan, M. A.; Brooks, N. R.;
Young, V. G., Jr.; Frech, R. Chem. Mater. 2005, 17, 2284.
(39) Davidson, M. G.; Raithby, P. R.; Johnson, A. L.; Bolton, P. D.
Eur. J. Inorg. Chem. 2003, 3445.
(4) MacFarlane, D. R.; Huang, J.; Forsyth, M. Nature 1999, 402, 792.
(5) Howlett, P. C.; MacFarlane, D. R.; Hollenkamp, A. F. J. Electro-
chem. Soc. 2004, 7, A97.
(6) Sakaebe, H.; Matsumoto, H. Electrochem. Commun. 2003, 5, 594.
(7) Shin, J.-H.; Henderson, W. A.; Passerini, S. Electrochem. Com-
mun. 2003, 5, 1016.
(8) Shin, J.-H.; Henderson, W. A.; Passerini, S. Electrochem. Solid-
State Lett. 2005, 8, A125.
(40) Seo, D. M.; Boyle, P. D.; Henderson, W. A. Acta Crystallogr.
2011, E67, m534.
(41) Nowinski, J. L.; Lightfoot, P.; Bruce, P. G. J. Mater. Chem. 1994,
4, 1579.
(42) Lassꢀegues, J.-C.; Grondin, J.; Aupetit, C.; Johansson, P. J. Phys.
(9) Shin, J.-H.; Cairns, E. J. J. Power Sources 2008, 177, 537.
(10) Lux, S. F.; Schmuck, M.; Jeong, S.; Passerini, S.; Winter, M.;
Balducci, A. Int. J. Energy Res. 2010, 34, 97.
Chem. A 2009, 113, 305.
(11) MacFarlane, D. R.; Meakin, P.; Sun, J.; Amini, N.; Forsyth, M.
J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4164.
(12) Forsyth, M.; Huang, J.; MacFarlane, D. R. J. Mater. Chem. 2000,
10, 2259.
(13) MacFarlane, D. R.; Sun, J.; Golding, J.; Meakin, P.; Forsyth, M.
Electrochim. Acta 2000, 45, 1271.
(14) Hill, A. J.; Huang, J.; Efthimiadis, J.; Meakin, P.; Forsyth, M.;
MacFarlane, D. R. Solid State Ionics 2002, 119, 154.
(15) MacFarlane, D. R.; Meakin, P.; Amini, N.; Forsyth, M. J. Phys.:
Condens. Matter 2001, 13, 8257.
(16) Huang, J.; Forsyth, M.; MacFarlane, D. R. Solid State Ionics
2000, 136, 447.
(17) Henderson, W. A.; Passerini, S. Chem. Mater. 2004, 16, 2881.
(18) Kunze, M.; Jeong, S.; Paillard, E.; Sch€onhoff, M.; Winter, M.;
Passerini, S. Adv. Energy Mater. 2011, 1, 274.
(19) Castiglione, F.; Ragg, E.; Mele, A.; Appectecchi, G. B.;
Montanino, M.; Passerini, S. J. Phys. Chem. Lett. 2011, 2, 153.
(20) Hayamizu, K.; Tsuzuki, S.; Seki, S.; Fujii, K.; Suenaga, M.;
Umebayashi, Y. J. Chem. Phys. 2010, 133, 194505.
(21) Appetecchi, G. B.; Tizzani, C.; Scaccia, S.; Alessandrini, F.;
Passerini, S. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, A1685.
(22) SAINT, SADABS, XM and XL version 2009.9; Bruker-Nonius:
Madison, WI, 2009.
(23) Altomare, A.; Burla, M. C.; Camalli, M.; Cascarano, G. L.;
Giacovazzo, C.; Guagliardi, A.; Moliterni, A. G. G.; Polidori, G. P.;
Spagna, R. J. Appl. Crystallogr. 1999, 32, 115.
(24) Sheldrick, G. M. SHELXL-97; University of G€ottingen:
G€ottingen, Germany, 1997.
(25) Rey, I.; Johansson, P.; lindgren, J.; Lassꢀegues, J. C.; Grondin, J.;
Servant, L. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 3249.
(26) Johansson, P.; Gejji, S. P.; Tegenfeldt, J.; Lindgren, J. Electro-
chim. Acta 1998, 43, 1375.
(27) Xue, L.; Padgett, C. W.; DesMarteau, D. D.; Pennington, W. T.
Solid State Sci. 2002, 4, 1535.
(28) Matsumoto, K.; Hagiwara, R.; Tamada, O. Solid State Sci. 2006,
8, 1103.
(29) Zhou, Q.; Fitzgerald, K.; Boyle, P. D.; Henderson, W. A. Chem.
Mater. 2010, 22, 1203.
(30) Herstedt, M.; Smirnov, M.; Johansson, P.; Chami, M.; Grondin,
J.; Servant, L.; Lassꢀegues, J. C. J. Raman Spectrosc. 2005, 36, 762.
(31) Brouillette, D.; Irish, D. E.; Taylor, N. J.; Perron, G.;Odziemkowski,
M.; Desnoyers, J. E. Phys. Chem. Chem. Phys. 2002, 4, 6063.
(32) Lassꢀegues, J.-C.; Grondin, J.; Talaga, D. Phys. Chem. Chem. Phys.
2006, 8, 5629.
(33) Umebayashi, Y.; Mitsugi, T.; Fukuda, S.; Fujimori, T.; Fujii, K.;
Kanzaki, R.; Takeuchi, M.; Ishiguro, S. J. Phys. Chem. B 2007, 111,
13028.
(34) Duluard, S.; Grondin, J.; Bruneel, J.-L.; Pianet, I.; Grꢁelard, A.;
Campet, G.; Delville, M.-H.; Lassꢀegues, J.-C. J. Raman Spectrosc. 2008,
39, 627.
(35) Shirai, A.; Fujii, K.; Seki, S.; Umebayashi, Y.; Ishiguro, S.; Ikeda,
Y. Anal. Sci. 2008, 24, 1291.
(36) Umebayashi, Y.; Mori, S.; Fujii, K.; Tsuzuki, S.; Seki, S.;
Hayamizu, K.; Ishiguro, S. J. Phys. Chem. B 2010, 114, 6513.
4337
dx.doi.org/10.1021/cm201427k |Chem. Mater. 2011, 23, 4331–4337